| 专利名称 | 一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置 | 申请号 | CN201720296551.6 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206787949U | 公开（授权）日 | 2017.12.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 李阁平;袁福森;储林华;罗倩倩;王练;高博;李晓珊;顾恒飞;刘承泽;韩福洲 | 主分类号 | G01N3/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N3/24(2006.01)I | 专利有效期 | 一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置 至一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置，其为满足下述要求的剪切装置：其由中心对称结构的下剪切偶(1)和上剪切偶(2)配对组合构成，单个剪切偶构成如下：紧固连接部(7)、基础部(6)、配合对正部(4)；其中，基础部(6)为圆柱体形状，紧固连接部(7)、配合对正部(4)沿基础部(6)的轴向分别布置在其两端；紧固连接部(7)、基础部(6)、配合对正部(4)三者固定连接为整体的一体化结构；两个剪切偶的配合对正部(4)上设置有垂直于轴向的贯穿的长方体形样品槽(5)。本实用新型适用性广，建构简单，成本低，可操作性强，技术效果优良，其具有可预期的较为巨大的经济价值和社会价值。 |
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