| 专利名称 | 非球面元件中心与外圆中心偏离量的测量装置及测量方法 | 申请号 | CN201510962256.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105627945A | 公开（授权）日 | 2016.06.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 刘钰;苗亮;张文龙;马冬梅;金春水 | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 非球面元件中心与外圆中心偏离量的测量装置及测量方法 至非球面元件中心与外圆中心偏离量的测量装置及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 非球面元件中心与外圆中心偏离量的测量装置及测量方法，涉及超高精度非球面面形检测加工领域。该方法为在以非球面元件外圆为中心做四个标记点；调节非球面元件使非球面面形测量装置光轴、非球面光轴及转台转轴相一致；当转台处于0度位置时检测非球面，记录4个标记点此时在干涉仪CCD上的像素位置坐标，得到非球面元件外圆中心的像素位置坐标(X1，Y1)；转台在0度、90度、180度以及270度位置处检测非球面，记录4个角度位置下任一标记点在的像素位置坐标，得到非球面中心的像素位置坐标(X2，Y2)；非球面中心与非球面元件外圆中心偏离的像素数为(X1-X2，Y1-Y2)，偏离量为(X1-X2，Y1-Y2)乘以像素分辨率。本发明结构简单、成本低、精度高。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障