| 专利名称 | 一种高精度激光测距装置与测量方法 | 申请号 | CN201610221712.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105699980A | 公开（授权）日 | 2016.06.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 纪荣祎;高书苑;周维虎;董登峰;劳达宝;张滋黎;袁江;石俊凯;刘鑫;王国名;王岩庆;程智 | 主分类号 | G01S17/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S17/08(2006.01)I;G01S7/481(2006.01)I | 专利有效期 | 一种高精度激光测距装置与测量方法 至一种高精度激光测距装置与测量方法 | 法律状态 | 著录事项变更 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种高精度激光测距装置以及测量方法，包括由左至右依次设置的激光器、光纤隔离器、光纤光分束器、光纤偏振光分束器、偏振调制器、方波扫频信号源、光纤耦合器和反射镜。本发明提供的基于光纤光路波导调制的测距装置以及测量方法，解决了传统相位测距法中鉴相精度低导致的测距精度难以提高的问题，同时也解决了空间光偏振调制测距中光路复杂、调制带宽较小、测距范围受限的问题。本发明简化了测量装置，提高了测量精度和测量系统的稳定度。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障