| 专利名称 | 一种离子电导率测试装置及采用其的测试方法 | 申请号 | CN201410811333.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105759123A | 公开（授权）日 | 2016.07.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 发明（设计）人 | 孙公权;夏章讯;王素力 | 主分类号 | G01R27/14(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/14(2006.01)I | 专利有效期 | 一种离子电导率测试装置及采用其的测试方法 至一种离子电导率测试装置及采用其的测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种离子电导率测试装置，包括一电压/电流测试装置和一测试电极；所述测试电极包括一块体基底，于所述块体基底上设有线性排列的四个通孔，四根铂丝分别插入四个通孔内；于所述铂丝下端端面与块体基底下表面之间的通孔内部填充有离子导体聚合物。所述离子导体聚合物为全氟磺酸聚合物、磺化聚醚醚酮、季铵化聚砜、聚苯丙咪唑中的一种。所述离子电导率的测试装置可用于测量碳纸、碳粉、碳纤维、半导体、金属、聚合物中任一一种的离子电导率。所述测试装置检测离子电导率的方法包括离子电导的测量和数据处理两个步骤。所述测试装置和方法解决了电子导体中离子电导率难以测量的问题，测量结果较为准确，可反应材料中离子的电导特性。 |
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