| 专利名称 | 干涉成像光谱仪及干涉仪 | 申请号 | CN201610481840.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106052874A | 公开（授权）日 | 2016.10.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 白清兰;李立波;冯玉涛;邹纯博;孙剑;刘欢;李芸;闫鹏;胡炳墚 | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I;G01B9/02(2006.01)I | 专利有效期 | 干涉成像光谱仪及干涉仪 至干涉成像光谱仪及干涉仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种干涉成像光谱仪及干涉仪，干涉成像光谱仪包括前置成像物镜、干涉仪、成像耦合镜和光电探测器；所述干涉仪包括两块相同的等腰梯形棱镜，两块等腰梯形的下底面胶合，相胶合的面为分束面；两块等腰梯形的上底面为反射面；两块等腰梯形棱镜的4个腰面中，其中相邻的两个腰面为干涉仪的两个入射端，另两个腰面为干涉仪的两个出射端。这种干涉成像光谱仪灵敏度高，结构紧凑，易于实现高空间分辨率光路，易于实现宽覆盖成像，双端口的入射和出射面可实现全视场全孔径定标而无需增加辅助光路，并可采用双探测器接收实现谱段的扩展或采用亚像元技术实现超分辨成像，干涉仪棱镜具有易于实现加工和装配的优点。 |
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