用于抽运探测热反射系统的无物镜测量装置

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专利名称 用于抽运探测热反射系统的无物镜测量装置 申请号 CN201621386398.8 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN206531807U 公开(授权)日 2017.09.29 申请(专利权)人 中国科学院工程热物理研究所 发明(设计)人 孙方远;邱东;唐大伟;陈哲;王新伟;杨明 主分类号 G01N25/20(2006.01)I IPC主分类号 G01N25/20(2006.01)I 专利有效期 用于抽运探测热反射系统的无物镜测量装置 至用于抽运探测热反射系统的无物镜测量装置 法律状态 说明书摘要 本实用新型提供一种用于抽运探测热反射系统的无物镜测量装置,包括:第一线性移动台;第二线性移动台;第三线性移动台;转接基板;以及直角支架;其中,所述第一和第二线性移动台通过所述转接基板正交装配,形成XY配置移动台,实现水平面内的移动;所述第三线性移动台通过所述直角支架与所述第一和第二线性移动台正交装配,形成三维移动平台;所述第一线性移动台,第二线性移动台,第三线性移动台分别沿所述三维移动平台的X、Y、Z轴方向移动。本实用新型实现了方便且精确的控制测量点及聚焦样品,方便液体或粉体形式样品及界面的热物性参数测量,节省了空间,实现了样品的灵活放置,有效消除了透射光学元件会引入的位相延迟和吸收损耗。

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