| 专利名称 | 用于T机构双晶单色仪的第二晶体微调机构 | 申请号 | CN201621453681.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206479652U | 公开（授权）日 | 2017.09.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 李旭芳;刘聪展;张爱梅 | 主分类号 | G01V5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01V5/00(2006.01)I | 专利有效期 | 用于T机构双晶单色仪的第二晶体微调机构 至用于T机构双晶单色仪的第二晶体微调机构 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本申请公开了一种用于T机构双晶单色仪的第二晶体微调机构，其包括：支撑板件，其包括上支撑板、中支撑板和下支撑板，上支撑板与双晶单色仪的T机构连接，下支撑板与第二晶体的固定槽连接；安装方向相互垂直的两个轴承结构，分别固定于上支撑板与中支撑板的一侧之间和中支撑板的另一侧与下支撑板之间；两个弹性件，与两个轴承结构一一相对地设置在同一安装平面内且相隔一定间距；以及两个直线电机，分别安装于上支撑板上且靠近一个弹性件和中支撑板上且靠近另一个弹性件，并且分别以一个轴承结构为支点而驱动中支撑板、下支撑板分别相对于上支撑板、中支撑板转动，以分别调节第二晶体的投角和滚角。该微调机构能够保持出光束流的强度稳定性。 |
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