| 专利名称 | 一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台 | 申请号 | CN201720049567.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206450595U | 公开（授权）日 | 2017.08.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 黄青;王纯阳 | 主分类号 | G01N21/359(2014.01)I | IPC主分类号 | G01N21/359(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I | 专利有效期 | 一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台 至一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，包括光谱测量载物台，所述光谱测量载物台的上表面开有第一凹槽，所述第一凹槽内还设有带有透光孔的第二凹槽。本实用新型的优点在于：提供了一种结构简单、操作方便、测量效率高的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台，配合NIR透射光谱仪使用，使用时，将单粒稻谷种子置于第二凹槽上，由于其与单粒稻谷种子的外形相配合且短轴直径略小于单粒稻谷种子的1/2高度，能将种子完全契合地固定于第二凹槽中，同时又不阻碍光信号对整个种子照射及穿透，再结合透光孔的位置及尺寸设计，又能完全保证测量时不会“漏光”，可减少测量误差并提高灵敏度。 |
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