| 专利名称 | 一种位姿测算光学仪器 | 申请号 | CN201621469051.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206362355U | 公开（授权）日 | 2017.07.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 柴文义;许哲;宋宗玺;袁灏;朱波;黄超 | 主分类号 | G01C21/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C21/00(2006.01)I;G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种位姿测算光学仪器 至一种位姿测算光学仪器 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及光学测量装置领域，具体涉及一种位姿测算光学仪器。主要解决了现有的位姿测算仪器测算数据可信度低、不能承受严酷的力学和热学环境，位姿测算光学仪器调试过程复杂的问题。位姿测算光学仪器包括光学相机、多个激光器组件和光学镜头；所述激光器组件和光学镜头均设置于光学相机上，光学相机设置有图像探测器和图像数据处理电路；光学镜头的光轴与图像探测器的视轴重合，光学镜头的光轴与图像探测器感光面垂直；激光器组件包括激光器和调整垫，调整垫设置于激光器与光学相机之间，多个激光器组件以光学镜头的光轴为中心沿圆周方向均布，激光器的光轴与光学镜头的光轴形成一定的夹角。 |
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