| 专利名称 | 一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器 | 申请号 | CN201621261568.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206258590U | 公开（授权）日 | 2017.06.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院近代物理研究所 | 发明（设计）人 | 朱光宇;武军霞;张雍;魏源;景龙;杜泽 | 主分类号 | G01T1/29(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/29(2006.01)I | 专利有效期 | 一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器 至一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及加速器束流诊断、束流测量、纵向束团形状测量技术领域，尤其是涉及一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器。包括探测器主体和设置在其上的微波带状线结构，所述的探测器主体包括法兰，钽铜复合板通过支撑架与法兰相连，法兰和钽铜复合板之间还设置有水冷管，所述的微波带状线结构设置在钽铜复合板内侧，微波带状线结构固定在微波带状线底板上，微波带状线结构上下分别设置有转接器，所述的微波带状线结构包括介质基板，介质基板上下分别设置有上层地和下层地，介质基板上设置有定位孔、第一金属化过孔和第二金属化过孔，带状线导带和微带线导带设置在介质基板上。其结构紧凑，易于加工，易于操作控制，时间分辨率高，抗干扰性强。 |
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