| 专利名称 | 一种低温下超导磁体动态测量装置 | 申请号 | CN201621204158.1 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206223951U | 公开（授权）日 | 2017.06.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院近代物理研究所 | 发明（设计）人 | 吴北民;马力祯;杨文杰;吴巍;倪东升 | 主分类号 | G01R33/07(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/07(2006.01)I | 专利有效期 | 一种低温下超导磁体动态测量装置 至一种低温下超导磁体动态测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及超导磁体测试设备技术领域，尤其是涉及一种低温下超导磁体动态测量装置。其特点是包括测量工作台和测磁工装机构，所述的测量工作台包括底盘，底盘上设置有X方向位置调整机构、Y方向位置调整机构和Z方向位置调整机构，Z方向位置调整机构上还设置有旋转驱动电机，旋转驱动电机通过联轴器与测磁杆上端相连，测磁杆穿过底盘的中间孔下端安装在测磁工装机构上，所述的测磁工装机构包括上定位盘和下定位盘，上定位盘上端对应设置有限位块，下定位盘下端对应设置有锁紧环，上定位盘和下定位盘之间设置有旋转筒。其具有自动化程度高，控制方便，适用范围广，测试可靠的优点；控制部分实现简单，其控制部分均为成熟技术。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障