| 专利名称 | 芯片过温监测器 | 申请号 | CN201210114277.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102620843B | 公开（授权）日 | 2013.09.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海高等研究院 | 发明（设计）人 | 汪宁;汪辉;章琦;袁盾山 | 主分类号 | G01K1/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01K1/02; G01K7/00 | 专利有效期 | 芯片过温监测器 至芯片过温监测器 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种芯片过温监测器，包括：温度感测单元、参考信号单元、比较单元、以及输出单元；所述输出单元的第二输出端与参考信号单元的反馈信号输入端连接，输出一反馈信号至参考信号单元，控制参考信号单元根据比较单元的反馈信号的值来确定输出第一或第二参考信号至比较单元的第二输入端，从而实现超温保护点和降温启动点之间的迟滞效应。本发明的优点在于，采用了从输出单元至参考信号单元的反馈机制，有效避免了芯片在温度上下波动的情况下，频繁发生超温报警，影响芯片正常工作。 |
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