| 专利名称 | 一种电子元器件测试恒温系统 | 申请号 | CN201621133274.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206161182U | 公开（授权）日 | 2017.05.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 王春林;高见头;赵发展;刘征;罗家俊 | 主分类号 | G01K7/22(2006.01)I | IPC主分类号 | G01K7/22(2006.01)I | 专利有效期 | 一种电子元器件测试恒温系统 至一种电子元器件测试恒温系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及电子元器件技术领域，特别涉及一种电子元器件测试恒温系统。包括：制冷片、导热平台、加热片、温度传感器、夹具、电源及控制单元；导热平台的一侧设置有制冷片，另一侧设置有加热片；温度传感器设置在导热平台上，并与控制单元连接；夹具设置在导热平台上，夹具用于固定电子元器件；电源与制冷片及加热片连接；控制单元与制冷片及加热片连接，控制制冷片及加热片工作。本实用新型提供的电子元器件测试恒温系统，提高了电子元器件的高低温测试效率，提高了电子元器件测试精度，减少了测试误差。 |
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