| 专利名称 | 一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置 | 申请号 | CN201621121391.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206146624U | 公开（授权）日 | 2017.05.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 张长兴;谢锋;刘成玉;邵红兰;刘智慧;杨贵 | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置 至一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利涉及一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置，本专利装置由黑体控制器、标准黑体、热红外高光谱成像仪和计算机模块组成，标准黑体可以发射稳定的热红外辐射，将热红外高光谱成像仪对准黑体并充满视场，热红外高光谱成像仪接收热红外辐射，通过计算机模块控制热红外高光谱成像仪采集8?12.5μm范围的数据，调节黑体控制体，改变标准黑体温度将黑体温度设置为N个(N≥30)不同的温度，待温度稳定后，如此往复，获取不同温度的N组热红外辐射数据，获取温升黑体热红外高光谱数据，生成盲元图像，完成盲元检测。基于该装置从光谱维角度实现热红外高光谱探测器盲元的高精度检测，对热红外高光谱成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。 |
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