| 专利名称 | 一种跟瞄系统对信标光斑位移灵敏度的测量装置 | 申请号 | CN201621119747.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206149275U | 公开（授权）日 | 2017.05.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 陈少杰;王建宇;张亮;强佳;吴金才 | 主分类号 | H04B10/073(2013.01)I | IPC主分类号 | H04B10/073(2013.01)I | 专利有效期 | 一种跟瞄系统对信标光斑位移灵敏度的测量装置 至一种跟瞄系统对信标光斑位移灵敏度的测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种跟瞄系统对信标光斑位移灵敏度的测量装置。该装置采用基于小波变换的数据处理方法，由激光器、压电陶瓷驱动器、压电陶瓷快速反射镜、平行光管等模拟产生远距离的固定频率、幅度规律变化的光源位移，光源位移的幅度和频率是事先设置好的，再由待测系统对光源进行探测，由工作计算机对探测所得的信息进行小波变换等数据处理可得到待测系统对信标光斑的位移灵敏度。本专利能有效地抑制测量平台抖动对测量装置的干扰，且简便易行。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
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