| 专利名称 | 一种自准直经纬仪双照准差标定系统 | 申请号 | CN201621057694.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206113965U | 公开（授权）日 | 2017.04.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 潘亮;张海洋;赵建科;周艳;田留德;赵怀学;张婷;王涛;薛勋;陈永权;段亚轩;胡丹丹;李坤;张洁;高博 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种自准直经纬仪双照准差标定系统 至一种自准直经纬仪双照准差标定系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种自准直经纬仪双照准差标定系统。该系统包括标定工作台、可调支架以及双目标模拟器；待测自准直经纬仪以及可调支架均安装在标定工作台上；双目标模拟器安装在可调支架上并且待测自准直经纬仪的中心高度和目标模拟器的光轴中心高度等高；双目标模拟器包括沿着待测自准直经纬仪的出射光路依次设置的平板玻璃、双胶合透镜组、分划板以及照明器；平板玻璃用于给待测自准直经纬仪提供平面反射目标；双胶合透镜组、分划板以及照明器用于给待测自准直经纬仪提供无穷远目标；本实用新型不仅结构简单、易于操作并且可一次性实现标定平面反射目标和无穷远目标的工作，大大提高了工作效率。 |
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