| 专利名称 | 薄膜X射线衍射原位测试装置 | 申请号 | CN201621060031.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206074486U | 公开（授权）日 | 2017.04.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明（设计）人 | 王瑞;刘春泽;朱大明;顾月良;阴广志;李晓龙 | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/20(2006.01)I;G05D27/02(2006.01)I | 专利有效期 | 薄膜X射线衍射原位测试装置 至薄膜X射线衍射原位测试装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型提供一种薄膜X射线衍射原位测试装置，包括一冷热台腔体和与其相连的一温度控制机构及一冷却机构，所述冷热台腔体包括可拆卸连接的一样品台底座和一压盖，所述压盖与所述样品台底座配合形成一内腔；还包括：一湿度控制机构，所述湿度控制机构连接所述冷热台腔体。本实用新型的一种薄膜X射线衍射原位测试装置可对反应腔体进行高低温控制、湿度控制并可实现原位的电学测试功能，具有调节自由度大、调节精度高、操作便捷、安全度高和成本低的优点。 |
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