| 专利名称 | 一种原位X射线衍射测试样品平台 | 申请号 | CN201620780020.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205991950U | 公开（授权）日 | 2017.03.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明（设计）人 | 杨铁莹;李晓龙;高兴宇 | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/20(2006.01)I | 专利有效期 | 一种原位X射线衍射测试样品平台 至一种原位X射线衍射测试样品平台 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种原位X射线衍射测试样品平台，其包括：热台底板；陶瓷加热片；罩在所述热台底板的正面上方、并与该热台底板围成用于容纳所述陶瓷加热片的密封空间的外罩；多个支撑在所述热台底板的背面的撑脚；通过一基板支撑在所述撑脚下方的平台底座；与所述电热丝和热电偶连接的温度控制装置；以及与所述热台底板以及外罩连接以对该热台底板和外罩进行冷却的循环水冷装置。本实用新型可置于X射线衍射仪内并能在高真空、高温环境下实现待测样品的升温和降温控制，并且由于温度控制装置和循环水冷装置互不影响，能够在保证循环水冷装置正常工作的条件下，使样品平台温度不至于太高，并且不影响陶瓷加热片正常高温工作。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障