| 专利名称 | 一种基于双折射元件的偏振合束自准直光路系统 | 申请号 | CN201620588101.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205898079U | 公开（授权）日 | 2017.01.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 王先华;贾森;蔡勇;吴易明;肖茂森 | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I;G02B27/30(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于双折射元件的偏振合束自准直光路系统 至一种基于双折射元件的偏振合束自准直光路系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型专利属精密光电测量技术领域，尤其涉及一种基于双折射元件的偏振合束自准直光路系统。所述一种基于双折射元件的偏振合束自准直光路系统中光源产生的光依次经过小孔光阑、第二准直透镜、第二十字分划板和偏振分光棱镜，进入双折射晶体产生折射后出射，经过1/4波片到被测物体后反射，再依次经过所述1/4波片、双折射晶体、第一十字分划板、第一准直透镜后进入光接收系统。本实用新型可以实现探测光路与光源光路的隔离，减弱甚至消除光源光路中的杂散光在光电接收系统中产生的噪声信号，提高信噪比和测量精度。 |
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