| 专利名称 | 传样装置及具有该装置的超高真空测量系统 | 申请号 | CN201620514351.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205749541U | 公开（授权）日 | 2016.11.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 况鹏;曹兴忠;张鹏;王宝义;靳硕学;卢二阳;于润升;魏龙 | 主分类号 | G01N35/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N35/04(2006.01)I;G01N35/10(2006.01)I | 专利有效期 | 传样装置及具有该装置的超高真空测量系统 至传样装置及具有该装置的超高真空测量系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开一种传样装置及具有该装置的超高真空测量系统，传样装置包括绝缘座、支架、样品托、送样杆以及磁耦合阀；绝缘座设于靶室内且开设有第一通孔；支架设于绝缘座内且具有向上伸出绝缘座的定位端，支架开设有贯通定位端的第二通孔，第二通孔与第一通孔对齐而形成一导孔；样品托用于可拆卸地放置至少一个样品，样品托上部的材质为顺磁性材料，其内部开设有开口于底面的定位槽；送样杆可升降地穿设于导孔，其顶端可调节地定位于定位槽，而使送样杆升降时带动样品托升降；磁耦合阀设于预抽室的顶盖的上方。本实用新型采用非机械配合的结构实现换样，各个结构的衔接处自然简单，免去了现有机械配合传样的复杂操作。 |
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