| 专利名称 | 一种实现光学显微测量标定的测试平台 | 申请号 | CN201620582650.6 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205691285U | 公开（授权）日 | 2016.11.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 发明（设计）人 | 汪进超;王川婴;胡胜;韩增强;王益腾 | 主分类号 | G01L25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01L25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种实现光学显微测量标定的测试平台 至一种实现光学显微测量标定的测试平台 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种实现光学显微测量标定的测试平台，工作台上通过定位导向器安装有光学显微测量探头，光学显微测量探头包括探头外筒和测量头，测量头包括触针套，触针套周向开设有若干个触针安装孔，触针安装孔的孔底开设有针部穿出孔，触针安装孔内设置有触针，触针包括触针针部和触针端部，触针针部上套设有弹簧，触针针部一端穿出针部穿出孔，触针针部上设置有针部卡位件，触针套的内壁设置有触针夹，工作台上还设置有能往复运动的标定针，标定针与触针端部相抵。可实现光学显微测量仪器的标定；提供了光学显微测量仪器的标定的装置。设计巧妙，构思严密，结构体系简单，易于实施。 |
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