专利名称 | 浮空器囊体材料老化试验装置 | 申请号 | CN201620195674.6 | 专利类型 | 实用新型 | 公开(公告)号 | CN205607826U | 公开(授权)日 | 2016.09.28 | 申请(专利权)人 | 中国科学院光电研究院 | 发明(设计)人 | 吕静;张远平;高衡;聂营;王生 | 主分类号 | G01N17/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N17/00(2006.01)I | 专利有效期 | 浮空器囊体材料老化试验装置 至浮空器囊体材料老化试验装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种浮空器囊体材料老化试验装置,包括:内套筒和外套筒,内套筒位于外套筒的内部;内套筒的外壁与外套筒的内壁之间通过第一支撑件连接;内套筒的外壁用于支撑待测浮空器副气囊样品材料;外套筒的外壁用于支撑待测浮空器主气囊样品材料;待测浮空器主气囊样品材料包裹待测浮空器副气囊样品材料,以进行浮空器囊体材料的老化试验。本实用新型实施方式提供的技术方案,使主气囊样品材料包裹副气囊样品材料,既可以使不同部位的主气囊样品材料得到不同的辐照度,又保证了副气囊样品材料处于主气囊材料包裹的无对流环境中。因而本实用新型实施方式提供的一种浮空器囊体材料老化试验装置使浮空器囊体材料的老化试验更加符合实际情况。 |
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