| 专利名称 | 基于同步采样和多重相位测量的激光测距装置 | 申请号 | CN201620319400.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205608186U | 公开（授权）日 | 2016.09.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 吴小可;徐卫明;舒嵘;肖琳 | 主分类号 | G01S17/32(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S17/32(2006.01)I;G01S17/36(2006.01)I | 专利有效期 | 基于同步采样和多重相位测量的激光测距装置 至基于同步采样和多重相位测量的激光测距装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了基于同步采样和多重相位测量的激光测距装置，系统发出开始信号使激光器驱动单元产生周期为全局时钟整数倍的半连续正弦信号对发射激光光强进行调制，目标反射的回波光转变为电信号后被全局时钟驱动下的模数转换器采样,其中调制频率和采样间隔为同源倍频关系。记录开始信号上升沿与第一个回波波形采样点前一时刻之间的全局时钟个数，得到粗距离，对采样数字波形进行傅里叶变换并利用频域鉴相获取回波正弦波形到其抵达前一时刻的相位差，且采用过采样后序列分解对回波进行多次相位测量以提高精度，并根据正弦调制周期换算成精距离，粗距离和精距离相加为距离信息。本专利具有无测程限制，硬件实现简单等特点。 |
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