| 专利名称 | 一种基于双磁光调制的精密测角装置 | 申请号 | CN201521064870.1 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205607344U | 公开（授权）日 | 2016.09.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 陆卫国;魏永静;肖茂森;王海霞 | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于双磁光调制的精密测角装置 至一种基于双磁光调制的精密测角装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型是一种基于双磁光调制的精密测角装置，包括偏振光信号发射单元以及设置在偏振光信号发射单元出射光路上的信号检测单元；偏振光信号发射单元包括光源、准直扩束镜、起偏器以及第一磁光调制器；准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器依次设置在经光源发出的出射光的光路上。本实用新型提供了一种精密测角装置，采用的是偏振光调制技术，具体实现方式是采用双磁光调制技术，该技术将光强度变化的频率作为角度信号的载体，从而使直接测量强度信号变为测量频率信号，通过信号处理来实现高精度角度测量。本实用新型具有测角速度快、灵敏度高以及作用距离远等特点。 |
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