一种用于电化学发光成像测量的遮光及电磁屏蔽装置

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专利名称 一种用于电化学发光成像测量的遮光及电磁屏蔽装置 申请号 CN201620094236.0 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN205538689U 公开(授权)日 2016.08.31 申请(专利权)人 中国科学院长春应用化学研究所 发明(设计)人 马英明;牛利;王伟;韩冬雪;包宇 主分类号 G01N21/76(2006.01)I IPC主分类号 G01N21/76(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01N27/26(2006.01)I 专利有效期 一种用于电化学发光成像测量的遮光及电磁屏蔽装置 至一种用于电化学发光成像测量的遮光及电磁屏蔽装置 法律状态 说明书摘要 一种用于电化学发光成像测量的遮光及电磁屏蔽装置,属于电化学发光成像测量技术领域。解决了现有技术中遮光及电磁屏蔽装置体积大,不利于安装和拆卸,使用十分不便,成本高的问题。该装置包括左闭合件、右闭合件和顶部闭合件且左闭合件、右闭合件和顶部闭合件的材料均为电磁屏蔽材料;其中,左闭合件和右闭合件的结构相同,左闭合件由外壳、顶板、把手、两个外沿、固定装置和胶套组成,顶部闭合件由底盘、顶盖、压紧件和胶圈组成。该装置结构小巧、简单,主体结构通过磁吸式方式固定,安装和拆卸方便,顶部闭合件能随探针一起移动,在遮光的同时便于实验的操作,同时该装置具有电磁屏蔽功能,电流信号不容易受到电磁波和外界环境的干扰。

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