| 专利名称 | 污染场地取样装置及渗漏污染探测系统 | 申请号 | CN201520499207.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205352764U | 公开（授权）日 | 2016.06.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 发明（设计）人 | 薛强;王平;肖凯;刘磊;李江山;刘凯;梁冰;张亭亭 | 主分类号 | G01N1/14(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N1/14(2006.01)I;G01N27/00(2006.01)I | 专利有效期 | 污染场地取样装置及渗漏污染探测系统 至污染场地取样装置及渗漏污染探测系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及污染场地取样装置及渗漏污染探测系统，属于环境污染检测技术领域。该取样装置包括：取样体、集液槽、抽真空部件、加压部件及取样瓶；取样体为多孔陶瓷结构，集液槽为内部封闭的腔体结构，设置在取样体的上方并通过输液管与取样体连通；抽真空部件通过管道与集液槽连通；加压部件通过管道与集液槽连通；取样瓶通过取样管与集液槽连通。该探测系统包括多个取样装置；多个取样装置中的取样体和集液槽固定在污染场地设定的多个取样点；多个取样点位于不同的深度。该污染场地取样装置及渗漏污染探测系统能对污染土壤进行长期持续取样并监测，且监测信息全面、安装取样便捷、监测实时高效、渗漏探测位置精确。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障