| 专利名称 | 速调管谐振腔特性参数的确定方法 | 申请号 | CN201511010305.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105551919A | 公开（授权）日 | 2016.05.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 赵鼎;王香君;丁耀根;张长青 | 主分类号 | H01J25/10(2006.01)I | IPC主分类号 | H01J25/10(2006.01)I | 专利有效期 | 速调管谐振腔特性参数的确定方法 至速调管谐振腔特性参数的确定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了速调管谐振腔特性参数的确定方法。在速调管谐振腔特性参数的确定方法中，速调管谐振腔特性参数包括所述谐振腔腔体的谐振频率和谐振腔的品质因数，该方法包括以下步骤：群时延曲线测量步骤，测量谐振腔的群时延曲线，以确定所述谐振腔腔体的谐振频率和耦合状态；驻波比曲线测量步骤，测量谐振腔的驻波比曲线；以及特性参数确定步骤，根据对驻波比曲线的测量结果以及所述谐振腔腔体的谐振频率和耦合状态，确定谐振腔的品质因数。本发明对过耦合和欠耦合的谐振腔均能适用，有效克服了现有技术中群时延曲线仅对过耦合谐振腔有意义的缺点，可用于速调管高损耗谐振腔特性参数的确定和优化。 |
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