| 专利名称 | 一种用于粒子成像的共线式成像检测器 | 申请号 | CN201520963726.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205139379U | 公开（授权）日 | 2016.04.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 发明（设计）人 | 唐紫超;刘志凌;谢华;张世宇 | 主分类号 | G01T1/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/36(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于粒子成像的共线式成像检测器 至一种用于粒子成像的共线式成像检测器 | 法律状态 | 说明书摘要 | 一种用于粒子成像的共线式成像检测器，将粒子成像装置以共线式结构布局放置在飞行时间质谱探测器的后端；即飞行时间质谱探测器的离子束接收面与粒子成像装置的离子束接收面平行，且它们均处于离子束飞行轨道上；该实用新型在传统的粒子飞行时间及速度成像装置的基础上，将粒子成像探测器设计成与粒子飞行方向共线的布局。共线式的结构布局有利于消除母体粒子初始动能对光解碎片离子(或光电子)的影响。 |
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