| 专利名称 | 一种离轴抛物面离轴量的测量装置 | 申请号 | CN201520736224.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205120039U | 公开（授权）日 | 2016.03.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 于清华;孙胜利 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种离轴抛物面离轴量的测量装置 至一种离轴抛物面离轴量的测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开一种离轴抛物面离轴量的测量装置，包括会聚光干涉仪、平行光干涉仪、自准平面镜、法兰盘和对可见波段高吸收的标记，利用光直线传播的原理，将离轴抛物面镜的通光孔径几何中心和焦点，投影到自准平面镜上，并分别标记，通过测量标记间距，测量离轴抛物面镜的离轴量。本专利的优点在于：原理简单、易操作，解决了离轴抛物面离轴量的测量问题。 |
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