| 专利名称 | 一种用于粒子成像的脉冲再参考透镜 | 申请号 | CN201520956709.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205122532U | 公开（授权）日 | 2016.03.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 发明（设计）人 | 唐紫超;刘志凌;谢华;张世宇 | 主分类号 | H01J37/26(2006.01)I | IPC主分类号 | H01J37/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于粒子成像的脉冲再参考透镜 至一种用于粒子成像的脉冲再参考透镜 | 法律状态 | 说明书摘要 | 一种用于粒子成像的脉冲再参考透镜,在粒子成像透镜的基础上，在其前端添加一组等间距的电极片。这些电极片与成像静电透镜入口处的第一片电极片用导电高压细线相接在一起。工作时，在成像电极片上加载脉冲电压，就可以实现离子再参考。 |
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