| 专利名称 | 成像高光谱检测装置 | 申请号 | CN201520863268.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN205091252U | 公开（授权）日 | 2016.03.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院遥感与数字地球研究所 | 发明（设计）人 | 张立福;吴太夏;张红明;张鹏;童庆禧 | 主分类号 | G01N21/25(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/25(2006.01)I | 专利有效期 | 成像高光谱检测装置 至成像高光谱检测装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及成像高光谱检测装置，包括光谱采集单元、运动平台、计算机控制单元和光源，计算机控制单元分别与光谱采集单元、运动平台和光源相连；光源用于照射待测样品；运动平台用于承载待测样品，并在计算机控制单元的控制下进行运动；光谱采集单元，包括依次设置在同一光路上的折返式光学组件、分光器和探测器，折返式光学组件将待测样品的反射光信号投射到分光器，分光器对接收到的反射光信号进行分光，并将分光后的光信号投射到探测器，探测器与计算机控制单元连接，以将采集到的数据上传到计算机控制单元。本实用新型采用了折返式光学组件，对反射光做折返，使装置更加紧凑、降低整个装置的高度，便于调节和运输。 |
1、源头对接，价格透明
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