| 专利名称 | 长波红外成像光谱仪光学系统 | 申请号 | CN201520371870.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204964019U | 公开（授权）日 | 2016.01.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 袁立银;何志平;李春来;王跃明;舒嵘;王建宇 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 长波红外成像光谱仪光学系统 至长波红外成像光谱仪光学系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种长波红外成像光谱仪光学系统，它用于对8～12.5μm波段实现精细分光光谱成像。其特征在于：系统由结构简单的透射式望远成像镜、全反射式低温光谱仪组成。光谱仪中的准直和会聚功能通过一个往返复用偏轴三反完成，利于像差校正、引入平面光栅、光学制造和低温光校。本专利解决了现有技术中采用曲面光栅分光的系统制造成本高昂、采用棱镜或平面光栅分光的系统制冷功耗大、透射镜头离焦、低温光校困难的问题。采用本专利所述的长波红外成像光谱仪光学系统，F数可小于1.9，视场大于15°，可应用于航空遥感领域。 |
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