| 专利名称 | 带有冷光阑的红外高光谱成像系统 | 申请号 | CN201520371936.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204964020U | 公开（授权）日 | 2016.01.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 王跃明;周世尧;王建宇;舒嵘;袁立银;郎均慰;黄文俊;鲍智康 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I | 专利有效期 | 带有冷光阑的红外高光谱成像系统 至带有冷光阑的红外高光谱成像系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种带有冷光阑的红外高光谱成像系统。本系统由成像子系统和分光子系统构成。所述成像子系统包括物镜组和第一低温遮光罩。所述分光子系统包括狭缝、准直反射镜、分光棱镜、会聚反射镜、校准镜、第二低温遮光罩和探测器光敏面。其中，第一低温遮光罩和第二低温遮光罩均被降温至100K开氏温度以下，两处带有玻璃平板的盒状遮光罩分别置孔径光阑和探测器光敏面于低温保护中。入射光线经物镜组一次成像于狭缝，经准直反射镜反射后进入分光棱镜色散分光，再经过会聚反射镜反射和校准镜校准后二次成像在探测器光敏面上。采用本专利的高光谱成像系统不仅像质好，集光能力强，光学效率高，而且低温保护区域小，杂散光干扰弱。 |
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