| 专利名称 | 测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统 | 申请号 | CN201520498859.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204854637U | 公开（授权）日 | 2015.12.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 张学敏;宋兴;张志军;侯晓华;闫肃 | 主分类号 | G01B11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/02(2006.01)I;G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统 至测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统，该系统包括光轴标杆A、光轴标杆B、自准直经纬仪A、自准直经纬仪B、自准直经纬仪C、干涉仪、平面反射镜和小平面镜；自准直经纬仪A、光轴标杆A、光轴标杆B和自准直经纬仪B依次处于同一光轴上；自准直经纬仪B与自准直经纬仪C处于同一光轴上；待测离轴反射镜置于自准直经纬仪B与自准直经纬仪C之间；小平面镜贴附在待测离轴反射镜上；干涉仪的焦点与待测离轴反射镜的焦点重合；干涉仪发出的球面波经待测离轴反射镜反射后形成反射光；平面反射镜置于反射光所在光路上。本实用新型提供了一种可对离轴反射镜的离轴量和离轴角进行精确测量的系统。 |
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