| 专利名称 | 激光测量核孔膜均匀度的装置 | 申请号 | CN201520158290.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204731151U | 公开（授权）日 | 2015.10.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院近代物理研究所 | 发明（设计）人 | 莫丹;袁平;刘杰;曹殿亮;刘建德;张胜霞 | 主分类号 | G01N21/17(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/17(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I | 专利有效期 | 激光测量核孔膜均匀度的装置 至激光测量核孔膜均匀度的装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种激光测量核孔膜均匀度的装置，其主要特点在于包括有支架，支架包括有水平支架和竖直支架，在竖直支架的上端设有激光器，在竖直支架的中部设有二维平移台，其二维平移台的台面为透明板：在水平支架上设有光探测器；激光器与光探测器在一个中心线上。本实用新型的优点是：采用可调束斑大小激光可以精准探测所需要了解的位置点的信息，可以根据不同的扫描方式，来统计所关心的不同位置的信息。这种扫描的方式，可以通过计算机编程，自动的进行获取，从而迅速得到样品的均匀度信息。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障