| 专利名称 | 一种用于测量天线阻抗的鉴相器 | 申请号 | CN201520312869.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204719132U | 公开（授权）日 | 2015.10.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 发明（设计）人 | 何钟鑫;赵燕平;毛玉周;张新军 | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/02(2006.01)I;G01R25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于测量天线阻抗的鉴相器 至一种用于测量天线阻抗的鉴相器 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种用于测量天线阻抗的鉴相器，包括有鉴相电路和低通滤波电路，鉴相电路包括有两条输入电路和鉴相芯片，两条输入电路分别通过电容C1和电容C2与鉴相芯片的6脚和2脚连接，低通滤波电路包括有运算放大器，鉴相芯片的9脚通过电阻R2与运算放大器的正输入端连接，鉴相芯片的9脚还连接电阻R1的一端，电阻R1的另一端接地，运算放大器的负输入端与输出端连接。本实用新型适用于无论天线处等离子体分布参数如何变化，都能准确测量处定向耦合器处入射波与反射波相位差，再根据入射功率与反射功率计算出天线处阻抗，鉴相器后端有低通滤波放大电路，减少外界干扰，提高测量精度，同时具有结构简单，方便安装实施等优点。 |
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