| 专利名称 | 一种紫外光谱仪光谱分辨力的检测装置及方法 | 申请号 | CN201510086813.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104977082A | 公开（授权）日 | 2015.10.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院国家天文台 | 发明（设计）人 | 王森;郭永卫 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J3/10(2006.01)I | 专利有效期 | 一种紫外光谱仪光谱分辨力的检测装置及方法 至一种紫外光谱仪光谱分辨力的检测装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明是一种紫外光谱仪光谱分辨力的检测装置及方法，包括：光源、单色仪、中继光学系统、真空平移台、真空舱、隔振台和平台；在隔振台上放置光源、单色仪、真空舱；平台位于真空系统的真空舱中，且平台底部的支柱伸出真空舱并与真空舱外的隔振台固定连接，保证真空舱外光源、单色仪的光学器件和舱内中继光学系统、被测紫外光谱仪的光学器件固定在相同的隔振台基础上；通过波纹管将支柱包裹在真空舱内，使真空舱内形成真空环境；中继光学系统、真空平移台位于真空舱中的平台上；以及被测紫外光谱仪置于真空平移台上，使中继光学系统和被测紫外光谱仪处于真空环境中；根据检测会聚光波长、能量半高宽与焦面线色散参数计算出被测紫外光谱仪分辨力。 |
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