| 专利名称 | 一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法 | 申请号 | CN201510389183.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104964664A | 公开（授权）日 | 2015.10.07 | 申请（专利权）人 | 国家纳米科学中心 | 发明（设计）人 | 葛广路;王瑞敏;陈岚 | 主分类号 | G01B21/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B21/08(2006.01)I;G01B21/10(2006.01)I | 专利有效期 | 一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法 至一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 |
本发明涉及一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法，所述方法包括如下步骤：(1)在梯度溶液中，采用CPS离心粒度仪测定未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径dc；(2)在相同的梯度溶液中，采用CPS离心粒度仪测定包覆了配体的纳米颗粒的粒径d；(3)根据式(I)计算配体层的厚度： |
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