| 专利名称 | 双光路切换互参考高精度AOTF性能测试装置 | 申请号 | CN201520040027.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204679246U | 公开（授权）日 | 2015.09.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 何志平;秦侠格;舒嵘;王建宇;杨秋杰;吴钰;白蕊霞;刘经纬 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 双光路切换互参考高精度AOTF性能测试装置 至双光路切换互参考高精度AOTF性能测试装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种双光路切换互参考高精度AOTF性能测试装置。测试装置包括波长可调谐激光器、中性密度滤光片、小孔光阑、格兰棱镜、二维电动转台、待检声光可调谐滤光器及驱动装置、反射动镜、探测器及探测器旋转装置、第一能量计探头、第二能量计探头。测试装置中波长可调谐激光器出射的激光光束先后通过中性密度滤光片、小孔光阑、格兰棱镜后得到线偏振准单色激光并垂直入射AOTF上，射频驱动器对AOTF施加一定的射频驱动，调整反射动镜的角度，使0级光和一级衍射光中的-1级光反射至探测器及探测器旋转装置，实现测试。本专利具有测试光路紧凑、测试步骤简明易操作、数据处理方法及流程明确等特点，在提高测试精度及系统稳定性的同时可实现高效率测试。 |
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