| 专利名称 | 一种基于ATE的FPGA器件测试装置 | 申请号 | CN201520333306.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204575782U | 公开（授权）日 | 2015.08.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间应用工程与技术中心 | 发明（设计）人 | 周珊;王金波;孔璐 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于ATE的FPGA器件测试装置 至一种基于ATE的FPGA器件测试装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种基于ATE的FPGA器件测试装置，包括测试控制器、波形转换器和测试显示器；所述测试控制器通过波形转换器与被测FPGA器件相连接；所述波形转换器分别与测试控制器和被测FPGA器件双向连接；所述波形转换器与测试显示器单向连接。本实用新型实现一种高可靠且精度能达到纳秒以上的物理测试平台，并实现下列功能：精确的对被测FPGA接口信号的物理特性进行测试；精确的对被测FPGA做接口测试。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障