| 专利名称 | 一种基于四面体边长和体积加权约束的单目视觉位姿测量方法 | 申请号 | CN201510290582.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104880178A | 公开（授权）日 | 2015.09.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 赵汝进;王进;赵人杰;王明富;洪裕珍;颜坤;游迪 | 主分类号 | G01C11/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C11/04(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于四面体边长和体积加权约束的单目视觉位姿测量方法 至一种基于四面体边长和体积加权约束的单目视觉位姿测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于四面体边长和体积加权约束的单目视觉位姿测量方法，该方法的步骤包括：步骤(1)、获取四面体目标图像；步骤(2)、提取图像中四面体目标特征点；步骤(3)、建立四面体体积和边长特征加权约束关系；步骤(4)、基于四面体体积边长加权约束关系解算位姿。该方法运用图像识别手段，以四面体体积和边长特征建立加权误差约束关系，提高了目标单目视觉位姿测量精度。 |
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