| 专利名称 | 单脉冲激光动态焦斑位置测量装置 | 申请号 | CN201520189970.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204514569U | 公开（授权）日 | 2015.07.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 董晓娜;赵娟宁;袁索超 | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 单脉冲激光动态焦斑位置测量装置 至单脉冲激光动态焦斑位置测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及单脉冲激光动态焦斑位置测量装置，包括待测光学系统、取样镜、标准汇聚透镜、微透镜阵列、CCD探测器及壳体，待测光学系统提供待测光束；取样镜对待测光束进行取样，得到取样光束；标准汇聚透镜对取样光束进行汇聚处理，得到汇聚光束，传输给微透镜阵列；微透镜阵列用于将汇聚光束进行再次汇聚后成像在CCD探测器上；待取样镜、标准汇聚透镜、微透镜阵列和CCD探测器按照光路的传输方向依次封装在壳体内。本实用新型解决了现有测焦斑位置的方法存在测量范围小、稳定性不高的技术问题，整个系统测量精度和范围可调性强。 |
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