| 专利名称 | 一种萨格纳克干涉仪两臂角度误差测量系统 | 申请号 | CN201420820436.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204514568U | 公开（授权）日 | 2015.07.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 丑小全;焦巧利;李华 | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种萨格纳克干涉仪两臂角度误差测量系统 至一种萨格纳克干涉仪两臂角度误差测量系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型属于光学测试领域，具体涉及一种萨格纳克干涉仪两臂角度误差测量系统。该系统包括第一经纬仪、第二经纬仪、旋转平台以及自准直测角光管；具体的测量方法是：1)获取目标光束的第一位置；2)获取目标光束的第二位置；3)根据目标光束在自准直测角光管上的第一位置和第二位置的距离计算萨格纳克干涉仪两臂角度误差；通过使用本实用新型的系统和方法大大提高了萨格纳克干涉仪两臂角度误差的测量精度，并且系统结构简单。 |
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