| 专利名称 | 一种物体轮廓的测量系统 | 申请号 | CN201520117309.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204495315U | 公开（授权）日 | 2015.07.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 张世武;王旭东;许旻;梁旭;陈卓 | 主分类号 | G01B21/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B21/20(2006.01)I;G01B21/32(2006.01)I | 专利有效期 | 一种物体轮廓的测量系统 至一种物体轮廓的测量系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种物体轮廓的测量系统，该系统包括：控制模块、位移传感器模块、影像模块和支撑模块，其中：支撑模块用于调整图像检测视场；位移传感器模块固定在支撑模块上，用于检测被测物体处于视场外部分上的多个测量采样点的位移数据，并将数据发给控制模块；影像模块采集被测物体视场内可见部分的图像和传感器偏转角度图像，并将图像发给控制模块；控制模块对采集数据进行处理，得到被测物体的形变数据和轮廓参数。本实用新型结合接触式测量和非接触式测量的特点，利用传感器的测量数值和传感器偏转角度构成测量点极坐标，并利用多个测量点的极坐标数据拟合出被测物体的轮廓，从而实现了影像失效区域内的弹性体轮廓测量。 |
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