| 专利名称 | 一种红外双波段共孔径折反射成像系统 | 申请号 | CN201510204445.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104793324A | 公开（授权）日 | 2015.07.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 白瑜;廖志远;任栖峰;廖胜;陈为;谭述亮;林妩媚;邢廷文 | 主分类号 | G02B17/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B17/08(2006.01)I | 专利有效期 | 一种红外双波段共孔径折反射成像系统 至一种红外双波段共孔径折反射成像系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种红外双波段共孔径折反射成像系统，用于将无穷远处中波光谱波段和长波光谱波段的目标辐射成像在长波红外探测器和中波红外探测器上，主光路为长波红外光路，折转光路为中波红外光路，主光路从光束入射方向依次排布包括主镜，次镜，准直镜1，准直镜2，分光镜，长波校正镜1，滤光片，长波校正镜2，长波校正镜3，长波校正镜4，长波校正镜5，长波探测器组件，折转光路从光束入射方向依次排布包括主镜，次镜，准直镜1，准直镜2，分光镜，中波校正镜1，中波校正镜2，中波校正镜3，中波转折反射镜，中波校正镜4，中波校正镜5，中波探测器组件。本发明具有结构相对紧凑、重量轻、成像质量好、可在较宽温度内工作等优点。 |
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