| 专利名称 | 一种光学环向变形测量系统 | 申请号 | CN201520148685.4 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204439459U | 公开（授权）日 | 2015.07.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 发明（设计）人 | 肖正龙;陈卫忠;杨建平 | 主分类号 | G01N3/06(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N3/06(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光学环向变形测量系统 至一种光学环向变形测量系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种光学环向变形测量系统，包括绕样线圈，所述的绕样线圈缠绕在被测试样上，绕样线圈的两端分别与标示橡胶条两端连接，标示橡胶条与被测试样之间设置有平板支架，平板支架位于被测试样的一侧为凹形，平板支架位于标示橡胶条一侧为平面。采用分离式设计，测量系统的各单元之间无连接线，可自由设置，不受接口以及操作空间的限制，也没有信号的干扰；采用普通高清光学相机采集变形，无其他电子采集设备，无特殊接口，通用性高，且可以同时采集多个变形而不需要额外增加采集单元；绕样单元整体加工简单、廉价，体积小，可同时在多个截面设置；绕样线圈缠绕试样的圈数大于1时将放大试样的环向变形，便于观测。 |
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