| 专利名称 | 一种全角度发射率/反射率测试平台 | 申请号 | CN201510129356.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104749204A | 公开（授权）日 | 2015.07.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院工程热物理研究所 | 发明（设计）人 | 周小明;淮秀兰;李勋锋;成克用 | 主分类号 | G01N25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种全角度发射率/反射率测试平台 至一种全角度发射率/反射率测试平台 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种全角度发射率/反射率测试平台：一固定平台，该固定平台的中心区域设有一可以360度旋转的中央旋转台，中央放置台的中心位置放置待测的金属块；固定平台上的两侧各设有一个横梁旋转底座，一横梁旋转支架的两端可放置地连接在横梁旋转底座上，以横梁旋转底座为支撑点作180度旋转，该横梁旋转支架跨设于中央旋转台上方；横梁旋转支架的中间是发射光源的固定位置；中央旋转台的一侧上设有一旋转底座，一L型旋转支架的一端可转动地连接在旋转底座上，以旋转底座为支撑点作180度旋转；该L型旋转支架的另一端设有探测器，该探测器位于横梁旋转支架发射光源的下方。本发明可以全角度测量金属块辐射率，不存在死角。 |
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