| 专利名称 | 分子影像成像验证系统 | 申请号 | CN201420541770.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204422419U | 公开（授权）日 | 2015.06.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 田捷;安羽;迟崇巍;杨鑫 | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I | 专利有效期 | 分子影像成像验证系统 至分子影像成像验证系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种分子影像成像验证系统。系统包括图像采集部分与图像处理部分：图像采集部分包括：冰冻切片机的柜体与采集装置支架相连接，采集装置支架与相机滑动装置相连接，相机滑动装置与相机支架连接，相机支架与相机连接；相机的转接口与相机镜头的转接口相连接，相机镜头的进光口与发射滤光片支架相连接，发射滤光片内嵌于发射滤光片支架的卡槽中；激发光源出口连接光纤的一端，光纤的另一端指向被观测物体；图像处理部分包括图像处理系统。本实用新型能够完成待检测物体的横截面切片测量，完成白光图像采集、荧光图像采集及与白光图像叠加、荧光图像自动分割、分割区域光子数统计、荧光区域几何信息测量，简化了操作步骤和操作流程。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障