| 专利名称 | 确定高分辨率SAR参考目标RCS对定标影响的方法及补偿方法 | 申请号 | CN201510119339.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104730503A | 公开（授权）日 | 2015.06.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 雷大力;洪峻;王宇;费春娇 | 主分类号 | G01S7/40(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/40(2006.01)I;G01S13/90(2006.01)I | 专利有效期 | 确定高分辨率SAR参考目标RCS对定标影响的方法及补偿方法 至确定高分辨率SAR参考目标RCS对定标影响的方法及补偿方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种确定高分辨率SAR参考目标RCS对定标影响的方法及补偿方法，基于FEKO三维电磁仿真结果，采用多层快速多极子方法获取参考目标RCS随频带或方位角变化数据，然后将该参考目标RCS引入到SAR回波信号中，可全面定量分析评估参考目标RCS随频带或方位角变化对成像结果的影响，是一种更为接近实际情况的分析方法；本发明的补偿方法，通过先对现有的具有不同中心频率和/或频带范围的高分辨SAR的参考目标RCS数据进行仿真，然后基于上述定标影响的结果，判断实际使用高分辨率SAR的带宽内的积分能量差值的最大值和方位波束宽度内积分能量差值的最大值中是否满足至少有一个大于或等于0.2dB来确定是否对进行回波补偿，可在满足SAR探测精度的同时，节省运算量。 |
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