| 专利名称 | 高温环境下光学元件激光损伤阈值测试装置 | 申请号 | CN201520029601.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204405299U | 公开（授权）日 | 2015.06.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 齐红基;王虎;崔岩岩;胡国行;王斌;刘有臣;易葵 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 高温环境下光学元件激光损伤阈值测试装置 至高温环境下光学元件激光损伤阈值测试装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 一种高温环境下光学元件激光损伤阈值测试装置，在传统的光学元件抗激光损伤阈值测试光路的测试平台上固定特殊设计的高温箱，被测光学元件样品置于高温箱内部，高温箱通过加热板及温度控制系统为被测试光学样品提供特定的温度环境。高温箱外设置另一个测试样品架，用于夹持另一个光学元件，该测试样品架可以根据测试样品的厚度在底板导槽内部前后移动，调节箱体外光斑测试样品架上光学元件样品表面位置与箱体内测试样品支撑架上光学元件样品的表面位置处于同一平面内。本实用新型具有高温环境下测试光学元件损伤阈值的能力，实现了高温条件下箱体内光学元件表面光斑尺寸的准确测试，获得高温环境下光学元件的抗激光损伤阈值。 |
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